静电力显微镜

静电力显微镜来自(英文名:Electrostatic Force Microscopy, 简称EFM)是一种利周期零硫种可用测量探针与样360百科品的静电相互作用，来表征样品表面静电势能，电荷分布以及电荷输运的扫描探压保让浓承信将磁针显微镜。

静电力显微镜的意工作原理与原子力显微镜类似。关键部分都是由悬臂梁组成的探针。但与原子力显盾常处乡永又房报微镜测量探针与身足回教进植烟设子样品的范德华力不同，静电力显微镜通过测量两者的库仑相互作用来实现投检样品成像。

• 中文名称 静电力显微镜
• 外文名称 Electrostatic Force Microscopy
• 缩写 EFM
• 类型 扫描探针显微镜
• 用途 表面静电力学分析

工作原理

　　工作时，探针与样品之间被加上工作电压，悬臂梁探针受静电力的作用，在样品表面宜罪没写剧积震荡，但不接触样品表面。范德华力随着原子间距离r成1 / r6衰减，因而原子力显微镜必须保证探针与样品表面来自几乎接触。相比之下，随1 / r2衰减的库仑力较为长程，通常探针与样品表面的工作距离为100纳米。假设样品与探针之间的电压为ΔV，等效电容为C，那么360百科系统的总能量为:

　　用z来代表样品表号笔值演收面的法线方向，则探针所受的静电力可以表示为:

　　与原子力显微镜相同，静电力显微镜也可以在液体环境中工作。

缺点

　　在实际操作中，由于探针与样品之间既有范德华力，又有库仑力。即使选用较大的工作距离，有时仍不能完全忽略原子力存在。通常的解决方法是将探针与样品之间的直流电压改为交流信号。最后，在处理信号时，只处理相关频率的交流信号，就条个食十油周可以将范德华力的影响排况查海得道些除在外。 另见:开尔文探针皇制调孙往力显微镜

参考文献

　　Electric Force Microscopy-High Resolution and 志于溶波罗序High Sensitivity Imaging of Electrostatic Force Electrostatic Force Microscope for Probing Surface Charges in Aqueous Solutions by S. X根甚督万永挥信赵片开u and M.F. Arnsdo来自rf